激光橢偏儀 Laser Ellipsometer

• 激光橢偏儀SE 400advanced?

  

  多角度激光橢偏儀 SE400advanced使用632.8nm波長HeNe激光器，對測量薄膜厚度，折射率和吸收系數有非常出色的精度。 SE400advanced能夠分析單層膜，多層膜和大塊材料（基底） 

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